(주)다나기술
신뢰성시험장비 (다나기술 개발제품)
HTOL (High Temperature Operting Life Test)
고온환경에서 부품 및 반도체의 수명을 평가하기
위한 신뢰성 시험장비
HTOL 파워시스템 및 시험용 챔버로 구성됨
THB (Themperature, Humidity, Bias)
온도/ 습도 / 전위차를 이용한 금속의 부식을
가속하여 온.습도에 따른 전기적 소장 및 부품의
부식을 평가하는 신뢰성 시험장비
THB 파워시스템 및 온/습도 챔버로 구성됨
PTC (Power Temperature Cycling)
반복적으로 On/Off를 수행하는 반도체소자를
고온과 저온상태에서 반복적으로 노출하여
반도체소자의 내성을 시험하는 신뢰성 시험장비
PTC 파워시스템 및 온도챔버로 구성됨
TST(Thermal Shock Test)
급격한 온도변화에 따른 전기적 소자에
미치는 영향을 평가하는 신뢰성 시험장비
TS저항시스템, TS파워시스템 및 온도챔버로 구성됨
TCT(Thermal Cycling Test)
고온 및 저온 환경에서 전기적 소자의 내구성시험 및
고온/저온의 반복적인 환경에서 전기적소자의
기능 평가를 위한 신뢰성 시험장비
TCT 저항시스템, TCT파워시스템 및 온도챔버로 구성됨
IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)
IGBT를 동작하면서 특정 온도상황에서 IGBT의
내구성 및 수명을 평가하는 신뢰성 시험장비
IGBT 파워시스템 및 온도챔버로 구성됨
당사는 데이터 수집 분석 및 계측통합시스템 전문회사 입니다. 우수한 성능과 가성비 높은 제품을 국내 보급함과 동시에 사용자 환경에 최적화된 계측통합 시스템을 개발 공급하고
있으며 전압, 전류, 온도, 압력,
진동, 소음 등 다양한 형태의 신호측정과, 항공우주, 반도체, 기초과학, 무기체계, 양산설비 분야에 최적의 시스템을 공급하고 있습니다.
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